Software-based Repair for Memories in Tiny Embedded Systems

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Author: Mario Schölzel, Patryk Skoncej, Frank Vater
ISBN:978-1-4799-7603-4
Title of the source (English):20th IEEE European Test Symposium (ETS), 25-29 May, Cluj-Napoca, Romania 2015
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2015
Number of pages:2
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
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