On the Feasibility of Handling Manufacturing Faults in Embedded Memories by Software Means

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Author: Mario Schölzel, Patryk Skoncej, Frank Vater
ISBN:978-1-4799-6972-2
Title of the source (English):IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their Application to Mechatronics (ECMSM)
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2015
Number of pages:6
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
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