An Analysis of the Operation and SET Robustness of a CMOS Pulse Stretching Circuit

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Marko AndjelkovicGND, Milos Krstic, Rolf Kraemer
ISBN:978-1-5386-0472-4
Title of the source (English):20thInternational Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2017), 19-21 April 2017 Dresden
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2017
Number of pages:6
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.