Test of automotive embedded processors with high diagnostic resolution

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Metadaten
Author: Christian Gleichner, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-80-8086-256-5
Title of the source (English):2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Kosice, Slovakia, 2016
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2016
First Page:1
Last Page:6
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
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