Novel Approach to Trapping Effect Modeling based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements

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Metadaten
Author: Peng Luo, Olof Bengtsson, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.1109/EuMIC.2016.7777514
ISBN:978-2-87487-044-6
ISBN:978-1-4673-9009-5
Title of the source (English):2016 11th European Microwave Integrated Circuits Conference : 3-4 October 2016, London, UK
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2016
First Page:157
Last Page:160
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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