Pronounced surface band bending of thin-film silicon revealed by modeling core levels probed with hard x-rays

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Author: David Wippler, Regan G. Wilks, Bart E. Pieters, Sacha Jennifer van Albada, Dominic Gerlach, Jürgen Hüpkes, Marcus Bär, Uwe Rau
DOI:https://doi.org/10.1021/acsami.6b04666
ISSN:1944-8252
ISSN:1944-8244
Title of the source (English):ACS Applied Materials & Interfaces
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2016
Volume/Year:8
Issue number:27
First Page:17685
Last Page:17693
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / JP Photovoltaik
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