Sensitivity and Noise of MOS magnetic field effect transistors

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Author: Dirk Killat, Johannes von Kluge, Frank Umbach, Werner A. Langenheinrich, Richard Schmitz
ISBN:2-86332-196-X
Title of the source (English):Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference, Congress Centre, Bologna, Italy, 9 - 11 September 1996
Publisher:Ed. Frontieres
Place of publication:Gif-sur-Yvette
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:1996
First Page:111
Last Page:114
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Mikroelektronik
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