Diagnostics self-test for dynamically scheduled superscalar processors based on reconfiguration techniques for handling permanent faults

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Metadaten
Author: Mario Schölzel, Tobias Koal, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-1-4799-6155-9
ISBN:978-1-4799-6156-6
Title of the source (English):International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2014), Amsterdam, Netherlands, 1 - 3 October 2014
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2014
First Page:27
Last Page:32
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
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