Photoluminescence and EBIC for Process Control and Failure Analysis in Si-Based Photovoltaics

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Metadaten
Author: Martin Kittler, Tzanimir V. ArguirovGND, Reiner P. Schmid, Winfried Seifert
ISBN:978-1-61503-041-5
ISBN:0-61503-041-7
Title of the source (English):ISTFA 2010, conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010
Publisher:ASM International Materials Park
Place of publication:Texas, USA
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2010
Tag:Photoluminescence
First Page:137
Last Page:142
Faculty/Chair:Fakultät 2 Umwelt und Naturwissenschaften / AG Physikalische Chemie II
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