Dislocation-related photoluminescence imaging of mc-Si wafers at room temperature

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Author: Daniel Mankovics, Reiner P. Schmid, Tzanimir V. ArguirovGND, Martin Kittler
URL:http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/crat.201200146/full
DOI:https://doi.org/10.1002/crat.201200146
ISSN:1521-4079
Title of the source (English):Crystal Research and Technology
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Tag:dislocations; imaging; photoluminescence; silicon
Volume/Year:47
Issue number:11
First Page:1148
Last Page:1152
Faculty/Chair:Fakultät 2 Umwelt und Naturwissenschaften / AG Physikalische Chemie II
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