Surface Analytical Characterization of Horizontal and Vertical Nanotopographies at the Silicon/Silicon Oxide/Electrolyte Phase Boundaries

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Michael Lublow
URN:urn:nbn:de:kobv:co1-opus-14390
Document Type:Doctoral thesis
Language:English
Year of publication:2009
Number of pages:193
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Experimentalphysik und funktionale Materialien
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.