Residual stress distribution and silicon phase transformation induced by Rockwell indentation at different temperatures, studied by means of micro-Raman spectroscopy

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Metadaten
Author: Simona Kouteva-Arguirova, Valeri Orlov, Winfried Seifert, Hans Richter, Jürgen ReifGND
ISSN:1662-9779
ISSN:0377-6883
Title of the source (English):Solid State Phenomena
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2004
Volume/Year:95-96
First Page:513
Last Page:518
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Experimentalphysik und funktionale Materialien
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