Femtosecond nonlinear optical characterization of silicon wafers: the role of symmetry

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Metadaten
Author: Jürgen ReifGND, Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Reiner P. Schmid
ISSN:1369-8001
Title of the source (English):Materials Science in Semiconductor Processing
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2001
Volume/Year:4
Issue number:1-3
First Page:241
Last Page:243
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Experimentalphysik und funktionale Materialien
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