Analysis of local electric properties of grain boundaries in Si by electron-beam-induced-current techniques

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Metadaten
Author: Stanislaw Pandelov, Winfried Seifert, Martin Kittler, Jürgen ReifGND
ISSN:0953-8984
Title of the source (English):Journal of Physics: Condensed Matter
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2002
Volume/Year:14
Issue number:48
First Page:13161
Last Page:13168
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Experimentalphysik und funktionale Materialien
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