Strain and Lattice Orientation Distribution in SiN/Ge CMOS Compatible Light Emitters Microstructures by Quick X-ray Nano-diffraction Microscopy

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Author: Gilbert A. Chahine, Marvin H. Zöllner, Marie-Ingrid Richard, G. Subhajit, Peter Zaumseil, Giovanni CapelliniORCiD, Thomas Schroeder, Tobias U. Schülli
DOI:https://doi.org/10.1063/1.4909529
ISSN:1077-3118
Title of the source (English):Applied Physics Letters
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2015
Volume/Year:106
First Page:071902-1
Last Page:071902-4
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
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