Bias-Dependent Pospieszalski Noise Model for GaN HEMT Devices

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Metadaten
Author: Matthias Rudolph, Ralf Dörner
URL:http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6775103&isnumber=6775099
ISBN:978-3-8007-3585-3
Title of the source (English):GeMiC 2014, German Microwave Conference 2014, March 10 - 12, 2014, Aachen, Germany
Publisher:VDE-Verl.
Place of publication:Berlin [u.a.]
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2014
Number of pages:4
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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