Specific modifications to enhance sensitivity in null-ellipsometry

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Marco Muth, Reiner P. Schmid, Klaus Schnitzlein
URL:http://www.ipfdd.de/fileadmin/user_upload/ax/OEA/8th_Workshop_Ellipsometry/Book%20of%20abstracts.pdf
Title of the source (English):Book of abstracts, 8th Workshop Ellipsometry, March 10 - 12, 2014, Dresden, Germany
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2014
First Page:S. 84
Faculty/Chair:Fakultät 2 Umwelt und Naturwissenschaften / AG Physikalische Chemie II
Fakultät 3 Maschinenbau, Elektro- und Energiesysteme / FG Chemische Reaktionstechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Leichtbau-Keramik
Fakultät für Umweltwissenschaften und Verfahrenstechnik (eBTU) / LS Chemische Reaktionstechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.