SoC Self Test Based on a Test Processor

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Metadaten
Author: Tobias Koal, René Kothe, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-1-6096-0212-3
Title of the source (English):Design an Test Technology for Dependable Systems on Chip
Publisher:IGI Global
Place of publication:Hershey [u.a.]
Contributor(s): Heinrich Theodor Vierhaus, Raimund Ubar, Jaan Raik
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2011
First Page:360
Last Page:375
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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