X-ray diffraction and extended X-ray absorption fine structure study of epitaxial mixed ternary bixbyite PrxY2-xO3 (x=0-2) films on Si (111)

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Gang Niu, Marvin H. Zöllner, Peter Zaumseil, A. Pouliopoulos, F. d'Acapito, Thomas Schröder, F. Boscherini
ISSN:0021-8979
Title of the source (English):Journal of Applied Physics
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2013
Volume/Year:113
Issue number:4
First Page:043504
Last Page:043506
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.