An automated Test Set-up for the dynamic Characterization of IGBT Modules under different thermal and electrical Conditions

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Metadaten
Author: Ionel Hemp, Lutz Göhler, Sven Bönisch
ISBN:978-3-8007-3505-1
Title of the source (English):PCIM 2013, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nürnberg, 14 - 16 May 2013
Publisher:VDE-Verlag
Place of publication:Berlin [u.a.]
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2013
First Page:888
Last Page:895
Faculty/Chair:Fakultät 3 Maschinenbau, Elektro- und Energiesysteme / FG Elektromagnetische Verträglichkeit
Institution name at the time of publication:Fakultät für Ingenieurwissenschaften und Informatik (eHL) / Prof. EMV
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